當(dāng)前位置：
首頁(yè) >
標(biāo)準(zhǔn)詳情頁(yè)
JIS C 61000-4-11:2003被替代
Electromagnetic Compatibility (emc) - Part 4: Testing And Measuring Techniques - Section 11: Voltage Dips, Short Interruptions And Voltage Variations Immunity Tests
出版：Japanese Standards Association
專家解讀視頻
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： JIS C 61000-4-11:2003
發(fā)布時(shí)間：2003/3/20 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：Japanese Standards Association
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：0
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
2003 [20/03/2003]
標(biāo)準(zhǔn)備注
Supersedes and redesignates JIS C1000-4-11.
(10/2005)
本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)
替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)
等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)
IEC 61000-4-11 Ed. 2.0 - Identical
