ASTM F76-08(2016)被替代

Standard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors

出版：American Society for Testing and Materials

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： ASTM F76-08(2016)

發(fā)布時間：2016/5/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：American Society for Testing and Materials

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：14

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

ASTM F76-08

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

ASTM F76-08(2016)e1

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