BIS IS 15444-2:2005 (R2016)現(xiàn)行

Reliability Stress Screening - Part 2: Electronic Components

出版：Bureau of Indian Standard

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： BIS IS 15444-2:2005 (R2016)

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Bureau of Indian Standard

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：31

標(biāo)準(zhǔn)簡介

2005(R2016) [01/01/0001]2005 [01/01/0001]

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

IEC 61163-2 : 1.0 - Identical

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