PREN 15991:2009被替代

Testing Of Ceramic And Basic Materials - Direct Determination Of Mass Fractions Of Impurities In Powders And Granules Of Non-oxidic Ceramic Raw And Basic Materials By Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectroscopy (icp Oes) With Electrothermal Vaporisation (etv)

出版：Comite Europeen de Normalisation

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： PREN 15991:2009

發(fā)布時間：2009/8/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Draft

出版單位：Comite Europeen de Normalisation

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：30

標(biāo)準(zhǔn)簡介

Describes a method for the determination of the trace element concentrations of Al, Ca, Cr, Cu, Fe, Mg, Ni, Ti, V and Zr in powdered and granular silicon carbide.

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

PREN 15991:2014

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

NEN EN 15991:2009 - Identical

NF EN 15991:2009 - Identical

DIN EN 15991 (2009-09) - Identical

09/30187541 DC - Identical

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PREN 15991:2009被替代

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