VDI/VDE 2655-1-1:2005被替代

Optical Measurement And Microtopographies - Calibration Of Interference Microscopes And Depth Measurement Standards For Roughness Measurement

出版：Verlag des Vereins Deutscher Ingenieure

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基本信息

標準編號： VDI/VDE 2655-1-1:2005

發布時間：2005/4/1 0:00:00

標準類別：Draft

出版單位：Verlag des Vereins Deutscher Ingenieure

標準頁數：38

標準簡介

Describes about interference microscopes used for measuring the topography of industrial surfaces.

替代本標準的新標準

VDI/VDE 2655-1-1:2008

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