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CEI EN 60749-5 : 2005現(xiàn)行
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 5: STEADY-STATE TEMPERATURE HUMIDITY BIAS LIFE TEST
出版：Comitato Elettrotecnico Italiano
專家解讀視頻
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： CEI EN 60749-5 : 2005
發(fā)布時(shí)間：2005/1/1 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：Comitato Elettrotecnico Italiano
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：14
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
Specifies a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments.
本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)
等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)
IEC 60749-5 : 2.0 - Identical
EN 60749-5 : 2017 - Identical
IEC 60749-5 : 2.0 - Identical
