CEI EN 60749-26 Ed. 2 (2016)現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 26: Electrostatic Discharge (Esd) Sensitivity Testing - Human Body Model (Hbm)

出版：Comitato Elettrotecnico Italiano

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： CEI EN 60749-26 Ed. 2 (2016)

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Comitato Elettrotecnico Italiano

標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：22

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

2ED 2016 [01/05/2016]1ED 2007 [01/05/2007]

標(biāo)準(zhǔn)備注

Classificazione CEI 47-56. (06/2007) 1ED 2007 Edition is valid until 14-04-2017. (06/2016)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

CEI EN 60749-26 Ed. 1 (2007)

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

EN 60749-26:2014 - Identical

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