OVE/ONORM EN 62047-17:2016現行
Semiconductor Devices - Micro-Electromechanical Devices - Part 17: Bulge Test Method For Measuring Mechanical Properties Of Thin Films (Iec 62047-17:2015)
出版：Osterreichisches Normungsinstitut
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： OVE/ONORM EN 62047-17:2016
標準類別：Standard
出版單位：Osterreichisches Normungsinstitut
標準頁數：30
標準簡介
2016 [01/02/2016]
等同采用的國際標準
EN 62047-17:2015 - Identical
