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DIN EN 120000 : 1996被替代

FACHGRUNDSPEZIFIKATION: OPTOELEKTRONISCHE HALBLEITER UND FLUESSIGKRISTAL-BAUELEMENTE

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： DIN EN 120000 : 1996
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：0
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

Describes terms, definitions, symbols, quality assessment procedures and methods of testing necessary for preparation of detail specifications (DS) for semiconductor optoelectronic and liquid crystal devices in the CECC system for the following: Light emitting diodes, optoelectronic displays, infrared emitting diodes, optocouplers, photoelements, photodiodes, phototransistors, photothrystors, semiconductor lasers, photoresistors, photoconductive cells, polycrystalline elements, physical receptors (photocell), liquid crystal displays and charge coupled image sensing devices - CCDs (for image sensing devices).

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

DIN 45939-1 : 1983

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

DIN EN 61747-1 : 2003

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

BS EN 120000 : 1996 - Identical

I.S. EN 120000:1998 - Identical

NEN EN 120000 : 1997 - Identical

SN EN 120000 : 1996 - Identical

I.S. EN 120000:1998 - Identical

EN 120000 : 1996 - Identical

BS EN 120000 : 1996 - Identical