CEI EN 60749-1 Ed. 1 (2005)現行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 1: General
出版：Comitato Elettrotecnico Italiano
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： CEI EN 60749-1 Ed. 1 (2005)
發布時間：2005/4/1 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Comitato Elettrotecnico Italiano
標準頁數：18
標準簡介
1ED 2005 [01/04/2005]
標準備注
Classificazione CEI 47-40. (05/2005) Supersedes CEI EN 60749. (05/2008)
本標準替代的舊標準
等同采用的國際標準
IEC 60749-1 Ed. 1.0 - Identical
