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ISO 17915 : 1ED 2018現(xiàn)行

OPTICS AND PHOTONICS - MEASUREMENT METHOD OF SEMICONDUCTOR LASERS FOR SENSING

出版：International Organization for Standardization

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： ISO 17915 : 1ED 2018
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：International Organization for Standardization
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：0
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

This document describes methods of measuring temperature and injected current dependence of lasing wavelengths, and lasing spectral line width in relation to semiconductor lasers for sensing applications.

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

ISO TS 17915 : 2013

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

NEN ISO 17915:2018 - Identical

BS ISO 17915:2018 - Identical