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DIN EN 60747-5-3 (2003-01)現(xiàn)行

Discrete Semiconductor Devices And Integrated Circuits - Part 5-3: Optoelectronic Devices - Measuring Methods

出版：Verband Deutscher Elektrotechniker

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： DIN EN 60747-5-3 (2003-01)

發(fā)布時間：2003/1/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Verband Deutscher Elektrotechniker

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：0

標(biāo)準(zhǔn)簡介

Defines the measuring methods that applies to the optoelectronic devices, which are not intended to be used in the fibre optic systems or subsystems.

標(biāo)準(zhǔn)備注

Supersedes DIN IEC 47C-109B-CDV, DIN IEC 60747-5 & DIN VDE 0884. (05/2002) Supersedes DIN IEC 47C-199-CD. (01/2003)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

DIN IEC 60747-5 (1988-12)

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

DIN EN 60747-5-5 (2015-11)

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

EN 60747-5-3:2001 - Identical

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