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IEC 60147-2H被替代

Essential Ratings And Characteristics Of Semiconductor Devices And General Principles Of Measuring Methods - General Principles Of Measuring Methods - Eighth Supplement

出版：International Electrotechnical Committee

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： IEC 60147-2H
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：International Electrotechnical Committee
標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：0
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

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替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60747-2 Ed. 2.0

IEC 60747-6 Ed. 2.0

IEC 60747-1 Ed. 2.0