DS EN 60749-11:2002現行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 11: Rapid Change Of Temperature - Two-Fluid-Bath Method
出版：Danish Standards
專家解讀視頻
基本信息
標準編號： DS EN 60749-11:2002
發布時間：2003/1/8 0:00:00
標準類別：Standard
出版單位：Danish Standards
標準頁數：24
標準簡介
Specifies the rapid change of temperature test method and the two-fluid-bath method. It is applicable to all semiconductor devices.
標準備注
COR 1 is also available in French. (08/2010)
等同采用的國際標準
EN 60749-11:2002 - Identical
