PN EN 60749-3:2004被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 3: External Visual Examination

出版：Polish Committee for Standardization

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： PN EN 60749-3:2004

發(fā)布時間：2004/8/23 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Polish Committee for Standardization

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：6

標(biāo)準(zhǔn)簡介

2004 [23/08/2004]2003 [15/08/2003]

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

PN EN 60749-3:2017

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

EN 60749-3:2017 - Identical

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