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ASTM E1438-06被替代

Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS

出版：American Society for Testing and Materials

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： ASTM E1438-06
發(fā)布時(shí)間：2006/11/1 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：American Society for Testing and Materials
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：2
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

CONTAINED IN VOL. 03.05, 2006Provides the SIMS analyst with a method for determining the width of interfaces from SIMS sputtering data obtained from analyses of layered specimens.

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E1438-91(2001)

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E1438-11