DIN EN 62047-15 (2012-11)被替代

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 15: Test method of bonding quality between PDMS and glass (IEC 47F/126/CD:2012)

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息

標準編號： DIN EN 62047-15 (2012-11)

發(fā)布時間：2012/11/1 0:00:00

標準類別：Draft

出版單位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

標準頁數(shù)：19

替代本標準的新標準

DIN EN 62047-15 (2016-01)

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