BS EN 60749-43:2017現(xiàn)行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 43: Guidelines For Ic Reliability Qualification Plans (Iec 60749-43:2017)

出版：British Standards Institution

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號： BS EN 60749-43:2017

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：British Standards Institution

標(biāo)準(zhǔn)頁數(shù)：0

標(biāo)準(zhǔn)簡介

2017 [30/09/2017]

標(biāo)準(zhǔn)備注

Supersedes 15/30269562 DC. (10/2017)

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

15/30269562 DC

等同采用的國際標(biāo)準(zhǔn)

EN 60749-43:2017 - Identical

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