NEN EN IEC 60747-5-3:2001現(xiàn)行

Discrete Semiconductor Devices And Integrated Circuits - Part 5-3: Optoelectronic Devices - Measuring Methods

出版：Nederlands Normalisatie Instituut

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： NEN EN IEC 60747-5-3:2001

發(fā)布時(shí)間：2001/7/1 0:00:00

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別：Standard

出版單位：Nederlands Normalisatie Instituut

標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：86

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

Defines the measuring methods applicable to the optoelectronic devices, which are not intended to be used in the fibre optic systems or subsystems.

標(biāo)準(zhǔn)備注

Supersedes NEN IEC 60747-5-3. (11/2001)

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

NEN EN IEC 60747-5-5:2011

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

EN 60747-5-3:2001 - Identical

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