UNI EN ISO 9220:1998現(xiàn)行

Metallic Coatings - Measurement Of Coating Thickness - Scanning Electron Microscope Method

出版：Italian Standards

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： UNI EN ISO 9220:1998

標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard

出版單位：Italian Standards

標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：0

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

Uses scanning electron microscope to examine cross sections of metallic coatings to measure thickness.

標(biāo)準(zhǔn)備注

Replaces UNI ISO 9220

本標(biāo)準(zhǔn)替代的舊標(biāo)準(zhǔn)

UNI ISO 9220:1990

等同采用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

SS EN ISO 9220 Ed. 1 (1994) - Identical

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