DIN IEC 60749 (1987-09)被替代

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息

標準編號： DIN IEC 60749 (1987-09)

發布時間：1987/9/1 0:00:00

標準類別：Standard

出版單位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

標準頁數：17

標準簡介

87 [01/09/1987]

標準備注

Supersedes DIN 41794-1 (07/2002)

替代本標準的新標準

DIN EN 60749 (2002-09)

等同采用的國際標準

IEC 60749 Ed. 2.2 - Identical

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