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PN EN 60749-1:2005現行

Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 1: General

出版：Polish Committee for Standardization

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基本信息

標準編號： PN EN 60749-1:2005

發布時間：2005/8/29 0:00:00

標準類別：Standard

出版單位：Polish Committee for Standardization

標準頁數：10

標準簡介

2005 [29/08/2005]2004 [15/06/2004]

等同采用的國際標準

IEC 60749-1 Ed. 1.0 - Identical

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