DIN EN 62047-18 (2011-06)被替代

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 18: Bending test methods of thin film materials (IEC 47F/76/CD:2011)

出版：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

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基本信息

標準編號： DIN EN 62047-18 (2011-06)

發布時間：2011/6/1 0:00:00

標準類別：Draft

出版單位：German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)

標準頁數：20

替代本標準的新標準

DIN EN 62047-18 (2014-04)

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