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ASTM F1404-92(1999)被替代

Test Method for Crystallographic Perfection of Gallium Arsenide by Molten Potassium Hydroxide (KOH) Etch Technique

出版：American Society for Testing and Materials

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基本信息
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)： ASTM F1404-92(1999)
發(fā)布時(shí)間：1999/6/10 0:00:00
標(biāo)準(zhǔn)類別：Standard
出版單位：American Society for Testing and Materials
標(biāo)準(zhǔn)頁(yè)數(shù)：6
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

CONTAINED IN VOL. 10.04, 2006Determines whether an ingot or wafer of gallium arsenide is monocrystalline and, if so, to measure the etch pit density and to judge the nature of crystal imperfections. Suitable for gallium arsenide crystals with etch pit densities between 0 and 2,00,000 square cm.

替代本標(biāo)準(zhǔn)的新標(biāo)準(zhǔn)

ASTM F1404-92(2007)