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光學(xué)和光學(xué)儀器　環(huán)境試驗(yàn)方法　第1部分：術(shù)語、試驗(yàn)范圍現(xiàn)行

Optics and optical instruments—Environmental test methods—Part 1:Definitions extent of testing

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 12085.1-2010

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 12085.1-2010

發(fā)布時(shí)間：2011-01-14

實(shí)施時(shí)間：2011-05-01

首發(fā)日期：1989-12-29

出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>

起草人：曾麗珠、章慧賢、馮瓊輝、張燕珂

出版機(jī)構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社

標(biāo)準(zhǔn)分類：光學(xué)儀器綜合

ICS分類：光學(xué)設(shè)備

提出單位：中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)

起草單位：寧波永新光學(xué)股份有限公司、上海理工大學(xué)

歸口單位：全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 103)

發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

主管部門：全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 103)

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本部分規(guī)定了環(huán)境試驗(yàn)方法的術(shù)語和定義、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。

替代情況

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引用標(biāo)準(zhǔn)

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