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半導(dǎo)體集成電路 電壓調(diào)整器測試方法的基本原理 廢止

Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods of voltage regulator

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 4377-1996

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 4377-1996
發(fā)布時(shí)間：1996-07-09
實(shí)施時(shí)間：1997-01-01
首發(fā)日期：1984-05-13
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：張寶華、李龍文、沈琪
作廢日期：2018-08-01
出版機(jī)構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 半導(dǎo)體集成電路
ICS分類：集成電路、微電子學(xué)
提出單位：中華人民共和國電子工業(yè)部
起草單位：全國集成電路標(biāo)委會(huì)模擬分會(huì)
歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門：國家技術(shù)監(jiān)督局
主管部門：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器電特性測試方法的基本原理。本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器電特性的測試，不適用于雙端（單端口）器件。

替代情況

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