
Inspection methods for environmental testing equipments for electric and electronic products—Corrosive gas testing equipments
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 5170.11-2008
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 5170.11-2008
發(fā)布時(shí)間:2008-06-16
實(shí)施時(shí)間:2009-03-01
首發(fā)日期:1985-05-07
出版單位:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國(guó)良
作廢日期:2018-07-01
出版機(jī)構(gòu):中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類: 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
ICS分類:環(huán)境試驗(yàn)
提出單位:全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 8)
起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所
歸口單位:全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 8)
發(fā)布部門:中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門:全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 8)
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
GB/T5170的本部分規(guī)定了腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于電工電子產(chǎn)品腐蝕氣體試驗(yàn)所用的試驗(yàn)設(shè)備的首次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。
標(biāo)準(zhǔn)摘要
GB/T5170目前包含以下幾部分: ---GB/T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則 ---GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.13-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái) ---GB/T5170.14ot巺_棏飽富-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái) ---GB/T5170.15-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái) ---GB/T5170.16-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī) ---GB/T5170.17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.19-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.20-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗(yàn)設(shè)備本部分是GB/T5170的第11部分。 本部分代替GB/T5170.11-1996《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備》。與GB/T5170.11-1996相比,本部分技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化: ---標(biāo)準(zhǔn)名稱電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備更改為電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備; ---所有用詞檢定更改為檢驗(yàn); ---增加了術(shù)語和定義一章; ---增加了溫度波動(dòng)度檢驗(yàn)項(xiàng)目; ---增加了溫度均勻度檢驗(yàn)項(xiàng)目; ---增加了相對(duì)濕度波動(dòng)度檢驗(yàn)項(xiàng)目; ---增加了相對(duì)濕度均勻度檢驗(yàn)項(xiàng)目; ---增加了溫度指示誤差檢驗(yàn)項(xiàng)目; ---增加了相對(duì)濕度指示誤差檢驗(yàn)項(xiàng)目; ---檢驗(yàn)項(xiàng)目氣流平均相對(duì)速度更改為風(fēng)速; ---增加了噪聲檢驗(yàn)項(xiàng)目; ---在檢驗(yàn)用主要儀器及要求一章中,給出了溫度測(cè)量系統(tǒng)和濕度測(cè)量系統(tǒng)其測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度(犽=2)的要求; ---增加了檢驗(yàn)負(fù)載一章; ---測(cè)量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù); ---增加了附錄A檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇。 附錄A 為規(guī)范性附錄。 本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC8)提出并歸口。 本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。 本部分主要起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國(guó)良。 本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為: ---GB/T5170.11-1985,GB/T5170.12-1985; ---GB/T5170.11-1996。 |
標(biāo)準(zhǔn)目錄
前言Ⅲ 1 范圍1 2 規(guī)范性引用文件1 3 檢驗(yàn)項(xiàng)目1 4 術(shù)語和定義1 5 檢驗(yàn)用主要儀器及要求2 6 檢驗(yàn)負(fù)載2 7 檢驗(yàn)條件2 8 檢驗(yàn)方法2 9 數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果7 10 檢驗(yàn)周期7 附錄A (規(guī)范性附錄) 檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇8 |
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