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太陽能電池用硅片厚度及總厚度變化測(cè)試方法 現(xiàn)行

Test method for thickness and total thickness variation of silicon wafers for solar cell

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 30869-2014

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 30869-2014
發(fā)布時(shí)間：2014-07-24
實(shí)施時(shí)間：2015-02-01
首發(fā)日期：
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：何紫軍、馮地直、程宇、黎陽、陳琳、荊旭華、劉卓
出版機(jī)構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 金屬物理性能試驗(yàn)方法
ICS分類：金屬材料試驗(yàn)
提出單位：全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC203)及材料分技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC203/SC2)
起草單位：東方電氣集團(tuán)峨嵋半導(dǎo)體材料有限公司、有研半導(dǎo)體材料股份有限公司、樂山新天源太陽能科技有限公司、青洋電子材料有限公司
歸口單位：全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC203)及材料分技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC203/SC2)
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門：國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了太陽能電池用硅片(以下簡(jiǎn)稱硅片)厚度及總厚度變化的分立式和掃描式測(cè)量方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于符合 GB/T26071、GB/T29055規(guī)定尺寸的硅片的厚度及總厚度變化的測(cè)量,分立式測(cè)量方法適用于接觸式及非接觸式測(cè)量,掃描式測(cè)量方法只適用于非接觸式測(cè)量。在測(cè)量?jī)x器準(zhǔn)許的情況下,本標(biāo)準(zhǔn)也可用于其他規(guī)格硅片的厚度及總厚度變化的測(cè)量。

標(biāo)準(zhǔn)摘要

本標(biāo)準(zhǔn)按照 GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC203)及材料分技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC203/SC2)共同提出并歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:東方電氣集團(tuán)峨嵋半導(dǎo)體材料有限公司、有研半導(dǎo)體材料股份有限公司、樂山新天源太陽能科技有限公司、青洋電子材料有限公司。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:何紫軍、馮地直、程宇、黎陽、陳琳、荊旭華、劉卓。

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