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電子探針分析儀的檢測方法 已作廢

Method for testing EPMA instrument

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 15075-1994

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 15075-1994
發(fā)布時間：1994-05-09
實(shí)施時間：1994-01-02
首發(fā)日期：1994-05-09
起草人：
作廢日期：2005-10-14
標(biāo)準(zhǔn)分類： 電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
ICS分類：光學(xué)測量儀器
起草單位：北京地質(zhì)院
歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布部門：國家技術(shù)監(jiān)督局
主管部門：國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子探針分析儀的檢測條件、技術(shù)要求、檢測方法、判別原則與檢測周期。本標(biāo)準(zhǔn)適用于使用中、修理后用X射線波長分光譜儀進(jìn)行素分析的電子探針分析儀的檢測。配有波譜儀的掃描電子顯微鏡的檢測可參照執(zhí)行。

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