国产精品久久久在线观看_亚洲免费观看视频网站_国产盗摄视频一区二区三区_久久久国产一级 - 日本在线观看一区

歡迎來到寰標網！ 客服QQ：772084082 加入會員

薄膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片 現行

Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits

標準號：GB/T 14620-2013

獲取原文 如何獲取原文？問客服 獲取原文，即可享受本標準狀態變更提醒服務！
基本信息

標準號：GB/T 14620-2013
發布時間：2013-11-12
實施時間：2014-04-15
首發日期：
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：曹易、李曉英
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 電子技術專用材料
ICS分類：  31.030
提出單位：中華人民共和國工業和信息化部
起草單位：中國電子技術標準化研究院
歸口單位：中國電子技術標準化研究院
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：中國電子技術標準化研究院

標準簡介

本標準規定了薄膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片的要求、測試方法、檢驗規則、標志、包裝、運輸和貯存。本標準適用于薄膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片(以下簡稱“基片”)的生產和采購,采用薄膜工藝的片式元件用氧化鋁陶瓷基片也可參照使用。

標準摘要

本標準按照GB/T1.1—2009給出的規則起草。
本標準代替GB/T14620—1993《薄膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片》,與GB/T14620—1993相比,主要變化如下:
———增加了術語和產品標識(見第3章和第4章);
———增加了對標稱氧化鋁含量不能小于實際含量的要求(見4.3);
———細化了劃線前后可能對基片外形尺寸造成影響的指標(見5.2.2);
———增加了對基片直線度的要求(見表2);
———區分燒結和拋光基片(見表1和表5);
———對基片翹曲度的測試進行了詳細說明(見附錄A)。
本標準由中華人民共和國工業和信息化部提出。
本標準由中國電子技術標準化研究院歸口。
本標準起草單位:中國電子技術標準化研究院。
本標準主要起草人:曹易、李曉英。
本標準所代替標準的歷次版本發布情況:
———GB/T14620—1993。

替代情況

會員注冊/登錄后查看詳情

引用標準

會員注冊/登錄后查看詳情

本標準相關公告

會員注冊/登錄后查看詳情

采標情況

會員注冊/登錄后查看詳情

推薦檢測機構
申請入駐

暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~

推薦認證機構
申請入駐

暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~

推薦培訓機構
申請入駐

暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~