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表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 實(shí)驗(yàn)測定的相對靈敏度因子在均勻材料定量分析中的使用指南 現(xiàn)行

Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy—Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 30702-2014

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 30702-2014
發(fā)布時(shí)間：2014-06-09
實(shí)施時(shí)間：2014-12-01
首發(fā)日期：
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：吳正龍
出版機(jī)構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
ICS分類：化學(xué)分析
提出單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC38)
起草單位：北京師范大學(xué)分析測試中心
歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC38)
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門：國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在俄歇電子能譜和 X 射線光電子能譜均勻材料定量分析中相對靈敏度因子的實(shí)驗(yàn)測量和使用指南。

標(biāo)準(zhǔn)摘要

本標(biāo)準(zhǔn)按照 GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。
本標(biāo)準(zhǔn)采用翻譯法等同采用ISO18118:2004《表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和 X射線光電子能譜實(shí)驗(yàn)測定的相對靈敏度因子在均勻材料定量分析中的使用指南》。
與本標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)范性引用的國際文件有一致性對應(yīng)關(guān)系的我國文件如下:
———GB/T22461—2008 表面化學(xué)分析 詞匯(ISO18115:2001,IDT);
———GB/T21006—2007 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)線性(ISO21270:2004,IDT)。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC38)提出并歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位:北京師范大學(xué)分析測試中心。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:吳正龍。

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