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納米技術(shù) 納米顆粒尺寸測(cè)量 原子力顯微術(shù) 現(xiàn)行

Nanotechnology—Test method for size of nanoparticles—Atomic force microscopy

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 33714-2017

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 33714-2017
發(fā)布時(shí)間：2017-05-12
實(shí)施時(shí)間：2017-12-01
首發(fā)日期：
出版單位：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：朱曉陽、楊延蓮、高潔、何丹農(nóng)、朱君、周素紅、張迎
出版機(jī)構(gòu)：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
ICS分類：試驗(yàn)條件和規(guī)程綜合
起草單位：國(guó)家納米科學(xué)中心、納米技術(shù)及應(yīng)用國(guó)家工程研究中心、北京粉體技術(shù)協(xié)會(huì)
歸口單位：全國(guó)納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 279)
發(fā)布部門：中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門：中國(guó)科學(xué)院

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用原子力顯微術(shù)(Atomic force microscopy，簡(jiǎn)稱AFM)測(cè)量納米顆粒高度來表征納米顆粒尺寸的方法。?本標(biāo)準(zhǔn)適用于分散在平整襯底表面上的納米顆粒測(cè)量。

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