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表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南 現(xiàn)行

Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Guidelines for analysis

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 30704-2014

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 30704-2014
發(fā)布時間：2014-06-09
實施時間：2014-12-01
首發(fā)日期：
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：趙志娟、劉芬、趙良仲、章小余
出版機(jī)構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
ICS分類：化學(xué)分析
提出單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC38)
起草單位：中國科學(xué)院化學(xué)研究所
歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC38)
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
主管部門：國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)適用于 X射線光電子能譜儀的操作者分析典型樣品。本標(biāo)準(zhǔn)幫助操作者完成整個分析過程,包括樣品處理,譜儀校準(zhǔn)和設(shè)定以及寬掃描譜和窄掃描譜的采集,并給出了定量和準(zhǔn)備最終報告的建議。

標(biāo)準(zhǔn)摘要

本標(biāo)準(zhǔn)按照 GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。
本標(biāo)準(zhǔn)使用翻譯法等同采用ISO10810:2010《表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南》。
與本標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)范性引用的國際文件有一致性對應(yīng)關(guān)系的我國文件如下:
———GB/T27025—2008 檢測和校準(zhǔn)實驗室能力的通用要求(ISO/IEC17025:2005,IDT)
———GB/T22461—2008 表面化學(xué)分析 詞匯(ISO18115:2001,IDT)
本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC38)提出并歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:中國科學(xué)院化學(xué)研究所。
本標(biāo)準(zhǔn)起草人:趙志娟、劉芬、趙良仲、章小余。

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