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微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準導則 現行

Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Guidelines for calibrating image magnification

標準號：GB/T 27788-2011

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基本信息

標準號：GB/T 27788-2011
發布時間：2011-12-30
實施時間：2012-08-01
首發日期：2011-12-30
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：陳振宇、周劍雄、李香庭、楊勇驥
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 放大鏡與顯微鏡
ICS分類：光學設備
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
起草單位：中國地質科學院礦產資源研究所、中國科學院上海硅酸鹽研究所、上海第二軍醫大學
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
主管部門：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)

標準簡介

本標準規定了使用適當的參考物質對掃描電鏡(SEM)圖像的放大倍率進行校準的方法。本標準限于對由參考物質上線距大小的范圍所決定的放大倍率進行校準。本標準不適用于專用測長型掃描電鏡。

標準摘要

本標準按GB/T1.1—2009給出的規則編寫。
本標準采用翻譯法等同采用ISO16700:2004《微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準導則》(英文版)。
本標準由全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC38)提出并歸口。
本標準主要起草單位:中國地質科學院礦產資源研究所、中國科學院上海硅酸鹽研究所、上海第二軍醫大學。
本標準主要起草人:陳振宇、周劍雄、李香庭、楊勇驥。

標準目錄

前言 Ⅰ
引言 Ⅱ
1 范圍 1
2 規范性引用文件 1
3 術語和定義 1
4 圖像放大倍率 3
5 參考物質 3
6 校準過程 4
7 圖像放大倍率和標尺的準確度 7
8 校準報告 7
附錄A (資料性附錄) 用于放大倍率校準的參考物質 9
附錄B(資料性附錄) 影響掃描電鏡放大倍率的參數 11
附錄C (資料性附錄) 放大倍率測量中的不確定度 12
附錄D (資料性附錄) 檢驗報告示例 13

替代情況

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引用標準

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本標準相關公告

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采標情況

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