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半導體集成電路機械和氣候試驗方法 已廢止

Mechanical and climatic test methods for semiconductor integrated circuits

標準號：SJ/T 10745-1996

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基本信息

標準號：SJ/T 10745-1996
發布時間：1996-11-20
實施時間：1997-01-01
首發日期：
起草人：
作廢日期：2010-01-20
標準分類： 技術管理
ICS分類：集成電路、微電子學

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