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分析電鏡（AEM/EDS）納米薄標樣 通用規范 已作廢

General specification of nanometer thin STANDARD specimen for analytical transmission electron microscopy (AEM/EDS)

標準號：GB/T 18735-2002

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基本信息

標準號：GB/T 18735-2002
發布時間：2002-05-22
實施時間：2002-12-01
首發日期：2002-05-22
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：孫振亞、劉永康
作廢日期：2015-03-01
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 電子光學與其他物理光學儀器
ICS分類：光學設備
提出單位：全國微束分析標準化技術委員會
起草單位：武漢理工大學、中科院廣州地球化學研究所
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會
發布部門：中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局
主管部門：國家標準化管理委員會

標準簡介

本標準規定了分析電鏡（AEM/EDS即透射電子顯微鏡或裝有掃描附件的透射電鏡——X射線能譜儀，測量比例因子（K A-B）所用納米薄標樣的技術要求、檢測條件和檢測方法。

替代情況

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引用標準

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采標情況

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