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金覆蓋層厚度的掃描電鏡測量方法 現(xiàn)行

Gold-plated thickness measurement by SEM

標準號：GB/T 17722-1999

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基本信息

標準號：GB/T 17722-1999
發(fā)布時間：1999-04-01
實施時間：1999-01-02
首發(fā)日期：1999-04-11
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：
出版機構(gòu)：中國標準出版社
標準分類： 電子光學與其他物理光學儀器
ICS分類：光學設(shè)備
起草單位：中國科學院北京科儀研制中心
歸口單位：全國微束分析標準化技術(shù)委員會
發(fā)布部門：國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
主管部門：國家標準化管理委員會

標準簡介

本標準規(guī)定了各類金制品的金覆蓋層厚度的掃描電鏡測量方法的技術(shù)要求，本標準也適用于電子探針儀測量金覆蓋層厚度，適用的厚度測量范圍為0.2~10um。其他金屬材料的覆蓋層厚度的測量也可參照執(zhí)行。

替代情況

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引用標準

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采標情況

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