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復(fù)合金屬覆層厚度的測定 Χ熒光法 已作廢

Method for measuring thickness of coated layer on composite metal; The x-ray fluorescent method

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 11250.2-1989

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 11250.2-1989
發(fā)布時間：1989-03-31
實施時間：1990-01-01
首發(fā)日期：1989-03-31
起草人：
作廢日期：2005-10-14
標(biāo)準(zhǔn)分類： 電子元件綜合
ICS分類：金屬鍍層
起草單位：機電部745廠
歸口單位：起草單位 Drafting Committee

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