當前位置：
首頁 >
半導體集成電路采樣/保持放大器測試方法的基本原理
半導體集成電路采樣/保持放大器測試方法的基本原理 現行
General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits
標準號：GB/T 14115-1993
基本信息
標準號：GB/T 14115-1993
發布時間：1993-01-21
實施時間：1993-08-01
首發日期：1993-01-21
出版單位：中國標準出版社查看詳情>
起草人：
出版機構：中國標準出版社
標準分類： 半導體集成電路
ICS分類：集成電路、微電子學
起草單位：上海件五廠
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會
發布部門：國家技術監督局
主管部門：信息產業部（電子）
標準簡介
本標準規定了半導體集成電路采樣/保持放大器電參數測試方法的基本原理。本標準適用于半導體集成電路采樣/保持放大器的電參數測試。
推薦檢測機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦認證機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦培訓機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
? 2018 北京寰標偉業科技發展有限公司版權所有并保留所有權利。
ICP備案證書號：京ICP備17031081號-1 客服電話：010-62050868
