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微束分析 電子探針顯微分析 波譜法實驗參數(shù)測定導(dǎo)則 現(xiàn)行

Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Guidelines for the determination of experimental parameters for wavelength dispersive spectroscopy

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 30705-2014

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 30705-2014
發(fā)布時間：2014-06-09
實施時間：2014-12-01
首發(fā)日期：
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：曾毅、李香庭、吳偉
出版機構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
ICS分類：物理化學(xué)分析方法
提出單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC38)
起草單位：中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所
歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC38)
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
主管部門：國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了進行電子探針分析時的入射電子束、波譜儀和試樣的實驗參數(shù)測定的一般原則,并規(guī)定了束流、束流密度、死時間、波長分辨率、背底、分析面積、分析深度和分析體積的測定過程。本標(biāo)準(zhǔn)適用于垂直入射電子束對拋光試樣的分析,對于其他實驗條件,這些實驗參數(shù)只能作為參考。本標(biāo)準(zhǔn)不適用于能譜法。

標(biāo)準(zhǔn)摘要

本標(biāo)準(zhǔn)按照 GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。
本標(biāo)準(zhǔn)使用重新起草法修改采用ISO14594:2009《微束分析 電子探針顯微分析 波譜法實驗參數(shù)測定導(dǎo)則》(英文版)。
本標(biāo)準(zhǔn)與ISO14594:2009《微束分析 電子探針顯微分析 波譜法實驗參數(shù)測定導(dǎo)則》(英文版)的主要技術(shù)差異:
———用 GB/T27025:2008代替ISO Guide25:1990;
———將第7章中ISO Guide25:1990的13.2項修改為 GB/T27025—2008的5.10。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC38)提出并歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:曾毅、李香庭、吳偉。

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引用標(biāo)準(zhǔn)

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采標(biāo)情況

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