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電子元器件失效率試驗(yàn)方法 已作廢

Determination of failure rate of electronic elements and components

標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB 1772-1979

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB 1772-1979
發(fā)布時(shí)間:1979-09-25
實(shí)施時(shí)間:1980-03-01
首發(fā)日期:1979-09-25
起草人:
作廢日期:2005-10-14
標(biāo)準(zhǔn)分類: 電子元件綜合
ICS分類:電子元件綜合
起草單位:電子部四所
歸口單位:信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
發(fā)布部門:信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
主管部門:信息產(chǎn)業(yè)部(電子)

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了有可靠性指標(biāo)的電子器件產(chǎn)品(以下簡(jiǎn)稱產(chǎn)品)的定級(jí)、維持和升級(jí)試驗(yàn)程序。本標(biāo)準(zhǔn)適用于其壽命能合理地認(rèn)為是服從指數(shù)分布,在本質(zhì)上是同一設(shè)計(jì)、建立了可靠性質(zhì)量管理和連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品。

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