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中小規(guī)模數(shù)字集成電路測試設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范 現(xiàn)行

Calibration Specification of Small & Medium Scale Digital Integrated Circuit Testing System

標(biāo)準(zhǔn)號：JJF 1160-2006

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：JJF 1160-2006
發(fā)布時間：2006-12-08
實施時間：2007-03-08
首發(fā)日期：
出版單位：中國計量出版社查看詳情>
起草人：陳大為、吳京燕等
出版機(jī)構(gòu)：中國計量出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 無線電計量
ICS分類：電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測量
起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
歸口單位：全國無線電計量技術(shù)委員會
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

標(biāo)準(zhǔn)簡介

本規(guī)范適用于測試時鐘頻率小于10MHz、沒有時間測量單元的中小規(guī)模數(shù)字集成電路測試設(shè)備校準(zhǔn)。

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