當前位置： 首頁 > 砷化鎵單晶AB微缺陷檢驗方法

砷化鎵單晶AB微缺陷檢驗方法現行

The inspecting method of AB microscopic defect in gallium arsenide single crystal

標準號：GB/T 18032-2000

獲取原文如何獲取原文？問客服獲取原文，即可享受本標準狀態變更提醒服務！

基本信息

標準號：GB/T 18032-2000

發布時間：2000-04-03

實施時間：2000-09-01

首發日期：2000-04-03

出版單位：中國標準出版社查看詳情>

起草人：王海濤、錢嘉裕、王彤涵、宋斌、樊成才

出版機構：中國標準出版社

標準分類：金相檢驗方法

ICS分類：金屬材料試驗綜合

提出單位：國家有色金屬工業局

起草單位：北京有色金屬研究總院

歸口單位：全國半導體材料和設備標準化技術委員會

發布部門：國家技術質量監督局

主管部門：國家標準化管理委員會

標準簡介

本標準規定了砷化鎵單晶AB微缺陷的檢驗方法。本標準適用于砷化鎵單晶AB微缺陷密度的檢驗。

替代情況

會員注冊/登錄后查看詳情

引用標準

會員注冊/登錄后查看詳情

本標準相關公告

會員注冊/登錄后查看詳情

采標情況

會員注冊/登錄后查看詳情

推薦檢測機構

申請入駐

暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~

推薦認證機構

申請入駐

暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~

推薦培訓機構

申請入駐

暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~

国产精品久久久在线观看_亚洲免费观看视频网站_国产盗摄视频一区二区三区_久久久国产一级 - 日本在线观看一区