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表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 化學(xué)信息的解析 現(xiàn)行

Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy—Derivation of chemical information

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/Z 32494-2016

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/Z 32494-2016
發(fā)布時(shí)間：2016-02-24
實(shí)施時(shí)間：2017-01-01
首發(fā)日期：
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：卓尚軍、申如香、虞玲、劉芬、沈電洪、丁訓(xùn)民
出版機(jī)構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
ICS分類：化學(xué)分析
提出單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 38)
起草單位：中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所
歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 38)
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 38)

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本指導(dǎo)性技術(shù)文件規(guī)定了識(shí)別X射線或者電子激發(fā)的俄歇譜中的化學(xué)效應(yīng)以及把它們用于化學(xué)表征的方法準(zhǔn)則。

標(biāo)準(zhǔn)摘要

本指導(dǎo)性技術(shù)文件按照GB/T 1.1-2009給出的規(guī)則起草。
本指導(dǎo)性技術(shù)文件使用翻譯法等同采用ISO/TR 18394：2006《表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 化學(xué)信息的解析》。
本指導(dǎo)性技術(shù)文件由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC 38）提出并歸口。
本指導(dǎo)性技術(shù)文件負(fù)責(zé)起草單位：中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所。
本指導(dǎo)性技術(shù)文件主要起草人：卓尚軍、申如香、虞玲、劉芬、沈電洪、丁訓(xùn)民。

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