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集成電路IP核測(cè)試數(shù)據(jù)交換格式和準(zhǔn)則規(guī)范 現(xiàn)行

Integrated circuit IP core test data interchange formats and guidelines specification

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：SJ/Z 11352-2006
發(fā)布時(shí)間：2006-09-26
實(shí)施時(shí)間：2006-12-01
首發(fā)日期：
起草人：
標(biāo)準(zhǔn)分類： 半導(dǎo)體集成電路
ICS分類：集成電路、微電子學(xué)

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