微電子技術(shù)用貴金屬漿料規(guī)范 現(xiàn)行
Specification for pastes of precious metal used for microelectronics
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 17472-2008
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了微電子技術(shù)用貴金屬漿料的產(chǎn)品分類、要求、試驗方法、檢驗規(guī)則及標(biāo)志、包裝、運輸、貯存等。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于繞結(jié)型及固化型微電子技術(shù)用貴金屬漿料，非貴金屬漿料也可參照執(zhí)行。 本標(biāo)準(zhǔn)修改采用ＩＳＯ１５６２：２００４ 《牙科學(xué) 鑄造金合金》和ＩＳＯ８８９１：１９９８ 《貴金屬含量２５％～７５％的牙科鑄造合金》。 本標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)ＩＳＯ１５６２：２００４ 和ＩＳＯ８８９１：１９９８重新起草 本標(biāo)準(zhǔn)代替ＧＢ／Ｔ１７１６８—１９９７《齒科鑄造貴金屬合金》，與其相比主要變化如下：———按照目前較通行的用語，將標(biāo)準(zhǔn)名稱改為“牙科鑄造貴金屬合金”；———增加了“隨模冷卻”、“內(nèi)包裝”、“電化學(xué)行為”等內(nèi)容；———將“產(chǎn)品類型”改為“分類”；———用“維氏硬度”代替“維氏硬度按鑄態(tài)提供實測值”；———用“耐腐蝕性”代替“腐蝕試驗”；———用“抗晦暗性”代替“失澤試驗”；———去掉“供應(yīng)狀態(tài)”、“訂貨單內(nèi)容”、“包裝、標(biāo)志、運輸和貯存”等內(nèi)容；———增加“取樣”、“試樣制備”及相關(guān)示意圖；———采用新的試驗方法；———將“檢驗規(guī)則”改為“包裝、標(biāo)識和說明書”；———將原“附錄Ａ 腐蝕試驗———靜態(tài)浸泡試驗”改為“附錄Ａ 表面腐蝕試驗法———靜態(tài)浸泡試驗”；———將原“附錄Ｂ 失澤試驗———硫化鈉試驗”改為“附錄Ｂ 抗晦暗試驗法———硫化鈉試驗”；———增加“附錄Ｃ 電化學(xué)試驗法———電動勢試驗”。
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本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T17472-1998 《貴金屬漿料規(guī)范》。 本標(biāo)準(zhǔn)與原標(biāo)準(zhǔn)相比,主要有如下變動: ---將原標(biāo)準(zhǔn)名稱修改為:微電子技術(shù)用貴金屬漿料規(guī)范; ---將原標(biāo)準(zhǔn)適用范圍由厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料擴(kuò)大至燒結(jié)型及固化型微電子技術(shù)用貴金屬漿料; ---將原標(biāo)準(zhǔn)中貴金屬漿料分類改為:燒結(jié)型貴金屬漿料和固化型貴金屬漿料; ---將原定義的漿料方阻、漿料附著力、漿料分辨率、漿料可焊性、漿料耐焊性分別改為方阻、附著力、分辨率、可焊性、耐焊性; ---增加貴金屬漿料按工藝分為燒結(jié)型貴金屬漿料和固化型貴金屬漿料; ---重新定義漿料的牌號表示方法; ---增加固化膜硬度試驗按GB/T6739的規(guī)定進(jìn)行、固化膜厚度按GB/T13452.2的規(guī)定進(jìn)行。 本標(biāo)準(zhǔn)由中國有色金屬工業(yè)協(xié)會提出。 本標(biāo)準(zhǔn)由全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口。 本標(biāo)準(zhǔn)由貴研鉑業(yè)股份有限公司負(fù)責(zé)起草。 本標(biāo)準(zhǔn)起草人:趙汝云、劉成、陳伏生、馬曉峰、朱武勛、李晉。 本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為: ---GB/T17472-1998。 |
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