
Semiconductor devices discrete devices blank detail specification for bi-directional triode thyristors(triacs),ambient and case-rated,for currents greater than 100A
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 13150-2005
基本信息
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 13150-2005
發(fā)布時(shí)間:2005-03-23
實(shí)施時(shí)間:2005-10-01
首發(fā)日期:1991-08-29
出版單位:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人:顏家圣、高占成、季節(jié)、徐志毅、蔣建明、秦賢滿
出版機(jī)構(gòu):中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi): 電力半導(dǎo)體期間、部件
ICS分類(lèi):晶體閘流管
提出單位:中國(guó)電器工業(yè)協(xié)會(huì)
起草單位:全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
歸口單位:全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門(mén):中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門(mén):信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
推薦檢測(cè)機(jī)構(gòu)
申請(qǐng)入駐
暫未檢測(cè)到相關(guān)機(jī)構(gòu),邀您申請(qǐng)入駐~
推薦認(rèn)證機(jī)構(gòu)
申請(qǐng)入駐
暫未檢測(cè)到相關(guān)機(jī)構(gòu),邀您申請(qǐng)入駐~
推薦培訓(xùn)機(jī)構(gòu)
申請(qǐng)入駐
暫未檢測(cè)到相關(guān)機(jī)構(gòu),邀您申請(qǐng)入駐~