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半導(dǎo)體器件 第12-3部分: 光電子器件 顯示用發(fā)光二極管空白詳細(xì)規(guī)范 現(xiàn)行

Semiconductor devices-Part 12-3:Optoelectronic devices-Blank detail specification for light emitting diodes--Display applicaton

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 18904.3-2002

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 18904.3-2002
發(fā)布時(shí)間：2002-12-04
實(shí)施時(shí)間：2003-05-01
首發(fā)日期：1990-12-06
出版單位：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：陳蘭
出版機(jī)構(gòu)：中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 半導(dǎo)體光敏器件
ICS分類：光電子學(xué)、激光設(shè)備
提出單位：中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部
起草單位：華禹光谷股份有限公司半導(dǎo)體廠
歸口單位：全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布部門(mén)：中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
主管部門(mén)：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

IEC 電子器件質(zhì)量評(píng)定體系遵循IEC章程并在IEC授權(quán)下工作。該體系的目的是確定質(zhì)量評(píng)定程序，以這種方式使一個(gè)參加國(guó)按有關(guān)規(guī)范要求放行地電子器件無(wú)需進(jìn)一步試驗(yàn)而為其他所有參加國(guó)同樣接受。本空白詳細(xì)規(guī)范使半導(dǎo)體器件的一系列空白詳細(xì)規(guī)范之一，并應(yīng)與下列IEC標(biāo)準(zhǔn)一起使用。IEC 60747-10/QC 700000:1991 半導(dǎo)體器件 第10部分 分立器件和集成電路總規(guī)范。IEC 60747-12/QC 720100:1991 半導(dǎo)體器件 第12部分 光電子器件分規(guī)范

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