當前位置：
首頁 >
首飾 金、銀覆蓋層厚度的測定 X射線熒光光譜法
首飾 金、銀覆蓋層厚度的測定 X射線熒光光譜法 現行
Jewellery-Measurement of gold and silver coating tickness-X-ray fluorescence spectrometric methods
標準號：QB/T 1135-2006
基本信息
標準號：QB/T 1135-2006
發布時間：2006-08-19
實施時間：2006-12-01
首發日期：
出版單位：中國輕工業出版社查看詳情>
起草人：范積芳、李素青、李玉昆、李武軍
出版機構：中國輕工業出版社
標準分類： 工藝美術品
ICS分類：珠寶
提出單位：中國輕工業聯合會
起草單位：國家首飾質檢中心
歸口單位：全國首飾標委會
發布部門：中華人民共和國國家發展和改革委員會
標準簡介
本標準規定了用X射線熒光光譜法測量首飾金、銀覆蓋層厚度的方法。本標準適用于首飾及其他工藝品中金、銀等覆蓋層厚度的測定。
推薦檢測機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦認證機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
推薦培訓機構
申請入駐
暫未檢測到相關機構，邀您申請入駐~
? 2018 北京寰標偉業科技發展有限公司版權所有并保留所有權利。
ICP備案證書號：京ICP備17031081號-1 客服電話：010-62050868
