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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備 廢止

Inspection methods for environmental testing equipments for electric and electronic products—Salt mist testing equipments

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 5170.8-2008

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基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 5170.8-2008
發(fā)布時(shí)間：2008-06-16
實(shí)施時(shí)間：2009-03-01
首發(fā)日期：1985-05-07
出版單位：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社查看詳情>
起草人：伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良
作廢日期：2018-07-01
出版機(jī)構(gòu)：中國標(biāo)準(zhǔn)出版社
標(biāo)準(zhǔn)分類： 基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
ICS分類：環(huán)境試驗(yàn)
提出單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 8)
起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所
歸口單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 8)
發(fā)布部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
主管部門：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 8)

標(biāo)準(zhǔn)簡介

ＧＢ／Ｔ５１７０的本部分規(guī)定了鹽霧試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于ＧＢ／Ｔ２４２３．１７《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第２部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Ｋａ：鹽霧試驗(yàn)方法》和ＧＢ／Ｔ２４２３．１８《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第２部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Ｋｂ：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）》所用鹽霧試驗(yàn)設(shè)備的首次檢驗(yàn)／驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。

標(biāo)準(zhǔn)摘要

GB/T5170目前包含以下幾部分:
---GB/T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
---GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.13-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺
---GB/T5170.14-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺
---GB/T5170.15-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺
---GB/T5170.16-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī)
---GB/T5170.17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.19-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)設(shè)備
---GB/T5170.20-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗(yàn)設(shè)備
本部分是GB/T5170的第8部分。
本部分代替GB/T5170.8-1996。與GB/T5170.8-1996相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:
---標(biāo)準(zhǔn)名稱電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備更改為電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備;
---所有用詞檢定更改為檢驗(yàn);
---增加了術(shù)語和定義一章;
---增加了溫度波動(dòng)度檢驗(yàn)項(xiàng)目;
---增加了溫度均勻度檢驗(yàn)項(xiàng)目;
---增加了溫度指示誤差檢驗(yàn)項(xiàng)目;
---增加了溫度過沖量檢驗(yàn)項(xiàng)目;
---增加了溫度過沖恢復(fù)時(shí)間檢驗(yàn)項(xiàng)目;
---增加了噪聲檢驗(yàn)項(xiàng)目;
---在檢驗(yàn)用主要儀器及要求一章中,給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度(k=2)
的要求;
---增加了檢驗(yàn)負(fù)載一章;
Ⅲ
犌犅/犜5170.8-2008
---測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù);
---增加了附錄A檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇。
附錄A 為規(guī)范性附錄。
本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC8)提出并歸口。
本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。
本部分主要起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良。
本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:
---GB/T5170.8-1985;
---GB/T5170.8-1996。

標(biāo)準(zhǔn)目錄

前言Ⅲ
1 范圍1
2 規(guī)范性引用文件1
3 術(shù)語和定義1
4 檢驗(yàn)項(xiàng)目1
5 檢驗(yàn)用主要儀器及要求2
6 檢驗(yàn)負(fù)載2
7 檢驗(yàn)條件2
8 檢驗(yàn)方法2
9 數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果6
10 檢驗(yàn)周期7
附錄A (規(guī)范性附錄) 檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇8

替代情況

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